Плотность пленочных покрытий соединений галогенидов серебра определяется структурой получаемых пленок, которая зависит от их толщины и условий формирования. Пористость и, как следствие, шероховатость пленок галогенидов серебра определяется структурой самого материала AgI при иодизации серебра, нанесенного на гладкую поверхность. Пространственные параметры для пленок различной толщины определялись и рассчитывались с помощью атомно-силовой микроскопии. Получены и исследованы спектры пропускания, которые использовались для оценки распределения пор в исследуемых образцах и сравнивались с данными, полученными с помощью атомно-силовой микроскопии.
Thin films of silver iodide (AgI) have been prepared by the iodination of silver films, deposited on glass substrates. Spatial parameters of AgI films have been determined by atomic force microscopy (AFM). Transmission spectra have been measured and used for the evaluation of a number of film models. The comparison of AFM and optical data has been used for the estimation of the pore distribution in the investigated AgI films.
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- eLIBRARY ID
- 41264557