SciNetwork
  • Поиск
  • Библиотека 223
  • Журналы 6
  • Организации 4
    • Научно-исследовательские
    • Образовательные
    • Издательства
    • Библиотеки
    • Репозитории
  • Конференции
  • Блоги 2
  • Сообщество
    • Поиск людей
    • Группы
    • Форум
    • Формулы
  • Вход
Найти:
Войти Регистрация
Рабочий стол Мои работы Моя библиотека Мои сообщения Мои контакты Мои группы Мои подписки Мои конференции Мои фотографии Добавить Мои формулы Мой словарь Мои закладки Моя история
Чтобы продолжить, войдите в аккаунт или зарегистрируйтесь.
Приложение
на телефон

Ильинов Денис Владимирович Ilinov Denis Vladimirovich

Статусы
Автор
ОНП
матрица переноса, многослойная структура, рентгеновская дифрактометрия, карта обратного пространства, гетеро- пара ingaasgaas, твёрдый раствор ingaas
SciID
0000038236
SPIN-код
2401-2262
Заходил
показать
Подробнее
Работы
4
Библиотека
2
Блог
0
Конференции
0
Группы
0
Контакты
0
Работы Ильинова Д. В.: новые поступления
Анализ спектров пропускания распределенных брэгговских отражателей в зависимости от параметров четвертьволновых слоев
Статья
Анализ спектров пропускания распределенн…
Численный анализ спектров рентгеновского дифракционного отражения от сверхрешеток на основе гетеропары AlGaAs/GaAs в зависимости от структурных параметров
Статья
Численный анализ спектров рентгеновского…
Исследование структурных параметров гетероэпитаксиальных систем на основе InGaAs/GaAs методами нейтронографии и высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии
Статья
Исследование структурных параметров гете…
Неохлаждаемый матричный фотосенсор 640512 с расширенной областью чувствительности 0,4–2,0 мкм на основе коллоидных квантовых точек ККТ PbS cо слоем из p-NiOx, блокирующим электроны
Статья
Неохлаждаемый матричный фотосенсор 6405…
Библиотека Ильинова Д. В.: новые поступления
Численный анализ спектров рентгеновского дифракционного отражения от сверхрешеток на основе гетеропары AlGaAs/GaAs в зависимости от структурных параметров
Статья
Численный анализ спектров рентгеновского…
Исследование структурных параметров гетероэпитаксиальных систем на основе InGaAs/GaAs методами нейтронографии и высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии
Статья
Исследование структурных параметров гете…
Постов пока нет

Скоро владелец страницы опубликует здесь свои посты.

Доступ к этим данным разрешён только авторизованным пользователям.
Написать
Добавить в контакты
Другие действия
Пожаловаться
  • О научной сети
  • Пользовательское соглашение
  • Защита авторских прав
  • Cookies
  • Обратная связь
  • Privacy Policy
Права на оригинальные тексты, а также на подбор и расположение материалов принадлежат проекту SciNetwork, © 2016 — 2026
SciNetwork, © 2026
Функция добавления в закладки доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция отправки личных сообщений доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция оценок доступна только для авторизованных пользователей. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция добавления в контакты доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.