Применение фрактального анализа для исследования картин фотоиндуцированного рассеяния света в кристаллах ниобата лития (2015)
Разработана методика определения фрактальной размерности картин фотоиндуцированного рассеяния света (ФИРС). Исследована динамика проявления лазерно-индуцированных дефектов в слоях картин ФИРС стехиометрических монокристаллов ниобата лития различного генезиса посредством анализа фрактальной размерности слоев картин ФИРС. Проведено сравнение данных о лазерно-индуцированных дефектах, полученных методом фрактального анализа слоев ФИРС с данными, полученными методом измерения угла раскрытия индикатрисы ФИРС.
Издание:
ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА
Выпуск:
№1 (2015)