C использованием концепции мультифрактального формализма разработана методика расчета мультифрактальных характеристик изображений исследуемых структур. Изображение сканируется с помощью сканера или цифровой видеокамеры и передается в компьютер в виде файла в графическом формате ВМР (256 оттенков серой шкалы). Далее изменением текущей палитры интерактивно подбирается пороговое значение уровня серого, при котором данное изображение переводится в монохромный формат. После этого образ изображения копируется с экрана в оперативную память, представляется в виде двоичного массива и моделируется набором взаимопроникающих фрактальных подмножеств, на основе которых рассчитываются две зависимости, описывающие исходное множество как мультифрахтал - спектр сингулярностей f(α) и спектр размерностей Реньи D(q)