ПРОБЛЕМЫ РАЗРАБОТКИ ПЕРСПЕКТИВНЫХ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ (МЭС)

Архив статей журнала

ОБРАТНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ СБИС ДЛЯ ОБЕСПЕЧЕНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ АППАРАТУРЫ (2022)
Выпуск: № 3 (2022)
Авторы: Черемисинов Дмитрий Иванович, Черемисинова Людмила Дмитриевна

Обратное проектирование СБИС - мощный инструмент, используемый при верификации проекта для повышения быстродействия средств моделирования аппаратуры, а также для обнаружения незаконных вложений в процессе ее производства. Задача обратного проектирования СБИС заключается в построении спецификации устройства путем анализа его аппаратной реализации в виде СБИС. Основным этапом обратного проектирования является декомпиляция плоского нетлиста транзисторной схемы, которая состоит в извлечении из него описания на уровне логических элементов. В работе предлагаются программные средства выделения логической схемы из плоского SPICE-описания транзисторной схемы. Приводятся примеры обратного инжиниринга практических примеров транзисторных схем.

Сохранить в закладках