Доклад: Оценка предельных характеристик матричных микроболометрических приемников ИК-излучения с шагом элементов 12 мкм, применяемых для создания тепловизионных приборов высокого разрешения

Написать

В расписание

Докладчик

Солодков Алексей Аркадьевич

ОКБ АСТРОН

Автор(ы)

Солодков А.А

Соавтор(ы)

Бетрозов С.Б., Ерастов Д.А., Москвичев В.Ю., Попов В.К., Сильницкая О.А., Серов В.В., Соколов К.В., Худаяров З.Ф., Шилейко Н.А.

Тип доклада

Устный

Конференция

12 СЕКЦИЯ «ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ И ФОТОНИКИ» РОССИЙСКОГО ФОРУМА «МИКРОЭЛЕКТРОНИКА 2025»

Секция программы

Секция №12.1 ТЕХНОЛОГИИ ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ И ФОТОНИКИ. ОПТО- И ФОТОЭЛЕКТРОНИКА

Дата и время

четверг, 25 сен (начало в 10:20)

Видео запись

Видео доклада доступно только авторизованным пользователям.

Войти в кабинет

Статистика доклада

Статистика просмотров за 2025 - 2026 год.

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.

Создать тему обсуждения

Другие доклады секции: 10

09:00 | Фотоприемные матрицы инфракрасного диапазона на основе наноразмерных материалов

Попов Виктор Сергеевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

09:20 | Матричный фотосенсор 640x512 на основе коллоидных квантовых точек из сульфида свинца для области спектра 0,4-2,0 мкм

Панков Михаил Александрович•АО ″НПО ″ОРИОН″

09:40 | PECVD-СИНТЕЗ ПЛЕНОК КРТ ДЛЯ ИК-ДЕТЕКТОРОВ

Телегин Сергей Владимирович•Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

10:00 | Комплексные исследования объемных слоев CdxHg1-xTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках GaAs (100)

Климов Евгений Александрович•АО ″НПО ″ОРИОН″

10:20 | Оценка предельных характеристик матричных микроболометрических приемников ИК-излучения с шагом элементов 12 мкм, применяемых для создания тепловизионных приборов высокого разрешения

Солодков Алексей Аркадьевич•ОКБ АСТРОН

10:40 | Ик-фотодиоды российского производства для оптоволоконных линий связи и сенсоров различного назначения

Воропаев Кирилл Олегович•ОКБ-Планета

11:00 | Кофе-брейк

11:30 | Планаризация поверхности различных материалов и топологических рельефов для изготовления приборов фотоники нового поколения