Книга: Методы анализа поверхностей
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.
Предназначена для широкого круга научных работников — физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров и технологов, а также для преподавателей вузов и студентов соответствующих специальностей.
Информация о документе
- Формат документа
- PDF, DJVU
- Кол-во страниц
- 582 страницы
- Загрузил(а)
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
- Просмотров
- 21
Предпросмотр документа
Информация о книге
- Издательство
- Мир
- Год публикации
- 1979
- Каталог SCI
- Физика
- ББК
- 22.3. Физика
- УДК
- 53. Физика