Доклад: Характеризация эпитаксиальных пленок CdTe, выращенных методом МЛЭ на подложках GaAs, методами атомно-силовой микроскопии и спектроскопии фотолюминесценции

Написать

В расписание

Докладчик

Косякова Анастасия Михайловна

Автор(ы)

Косякова А.М., Виниченко А.Н., Климов Е.А., Пушкарев С.С., Суханова А.С.

Тип доклада

Устный

Конференция

XIV Научно-практическая конференция молодых учёных и специалистов

Секция программы

Секция 1. Научные достижения молодых учёных.

Дата и время

пятница, 07 фев (начало в 12:15)

Видео запись

1

Видео доклада доступно только авторизованным пользователям.

Войти в кабинет

Материалы доклада

Тезисы

Тезисы не доступны.

Презентация

У доклада нет презентации.

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.

Создать тему обсуждения

Другие доклады секции: 16

10:00 | Особенности методики измерения фотоэлектрических параметров лазерных гетеродинных фотоприёмных устройств

Кучин Денис Дмитриевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

10:15 | Статистический анализ результатов контроля спектральных характеристик матричных фотоприёмников

Давлетшин Ренат Валиевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

10:30 | Ячейки считывания с увеличенной зарядовой емкостью для использования в ИК ФПУ

Шумейко Мария Андреевна•АО ″НПО ″ОРИОН″

10:45 | Анализ надёжности фотомодуля с цифровыми выходами

Романов Евгений Константинович•АО ″НПО ″ОРИОН″

11:00 | Метод «виртуальной миры»: измерение пространственного разрешения, реализуемого ОЭС ДЗЗ, без необходимости формирования специальных тест-объектов

Кривоклякин Григорий Дмитриевич

11:15 | Применение in situ эллипсометрии для определения структурных и оптических характеристик гетероэпитаксиальных структур CdxHg1-xTe/GaAs(001)

Грекова Анастасия Александровна

11:30 | Перерыв

11:45 | Взаимосвязь электрофизических и структурных свойств пленок HgTe, полученных методом МЛЭ на подложках GaAs

Гладышева Кристина Анатольевна

12:00 | Исследования особенностей поверхности эпитаксиальных пленок HgTe методом дифференциальной интерференционно-контрастной микроскопии

Антонова Валерия Евгеньевна

12:15 | Характеризация эпитаксиальных пленок CdTe, выращенных методом МЛЭ на подложках GaAs, методами атомно-силовой микроскопии и спектроскопии фотолюминесценции

Косякова Анастасия Михайловна

12:30 | Оптические свойства и удельная обнаружительная способность фоточувствительных слоев на основе коллоидных квантовых точек