Статья: Исследование глубины и скорости ионного травления QWIP-структур (2019)

Читать онлайн

В работе исследованы зависимости скорости ионно-лучевого травления верхнего контактного слоя (GaAs: Si), активной области, состоящей из пятидесятикратного чередования барьерных слоев (AlxGa1-xAs) и квантовых ям (GaAs: Si), нижнего контактного слоя (GaAs: Si) по глубине QWIP-структур на основе GaAs-AlGaAs, изготовленных методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ), с целью определения влияния состава различных слоев на скорость травления и возможности завершения процесса травления на необходимую глубину по времени.

Consideration is given to research of the depth-speed dependences of QWIP-structures different layers ion-beam etching. The study was intended to establish the influence of the different layers composition on the etching speed. Another aim of the study also is to determine etching process completion possibility to the required depth on time.

Ключевые фразы: qwip-структура, ионно-лучевое травление, длинноволновый ик-диапазон, Гетероструктуры, молекулярно-лучевая эпитаксия
Автор (ы): Трухачев Антон Владимирович, Седнев Михаил Васильевич, Трухачева Наталия Сергеевна, Болтарь Константин, Дирочка Александр Иванович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.5. Проводники и полупроводники по виду материала
eLIBRARY ID
41716450
Для цитирования:
ТРУХАЧЕВ А. В., СЕДНЕВ М. В., ТРУХАЧЕВА Н. С., БОЛТАРЬ К., ДИРОЧКА А. И. ИССЛЕДОВАНИЕ ГЛУБИНЫ И СКОРОСТИ ИОННОГО ТРАВЛЕНИЯ QWIP-СТРУКТУР // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2019. №6
Текстовый фрагмент статьи