Исследовались параметры источников и приемников оптического излучения, созданных на базе гетероэпитаксиальных структур Ge/Si как элементов опто-электронных пар. Для сформированных по единой технологии структур с Ge(Si) наноостровками пики интенсивности в спектрах люминесценции и фоточувствительности отличались по длине волны, что обусловлено особенностями зонной структуры. Показана возможность использования в оптоэлектронных парах структур с массивами самоформирующихся наноостровков Ge(Si) как источников, так и приемников оптического излучения. В оптоэлектронных парах наряду со структурами с наноостровками Ge(Si) опробованы структуры p+-Si/n-Si: Er/n+-Si в качестве источников излучения и эпитаксиальные структуры Ge/Si в качестве фотоприемных устройств. Для различных сочетаний активных элементов был зарегистрирован оптопарный эффект с коэффициентом передачи K в диапазоне 10-5–10-6.
Parameters of optical radiation sources and receivers developed on the basis of Ge/Si heteroepitaxial structures as elements of optoelectronic pairs were studied. For structures with Ge (Si) nanowires formed by a single technology, the intensity peaks in the lumines-cence and photosensitivity spectra differed in wavelength due to the features of the zone structure. There is presented the possibility of using both optical radiation sources and re-ceivers in optoelectronic pairs of the structures with self-forming Ge (Si) nanowires arrays. p+-Si/n-Si: Er/n+-Si structures were tested in optoelectronic pairs along with the structures with Ge/Si nanowires as radiation sources and Ge (Si) epitaxial structures (ES) as photode-tector devices. For various combinations of active elements, an optopar effect with K transmission factor in the range of 10-5–10-6 was recorded
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- Префикс DOI
- 10.51368/2307-4469-2025-13-2-124-131