Распределение радиационных дефектов по глубине в облученных алмазах: данные конфокальной микроспектроскопии (2024)
Исследована природа окраски пяти алмазов. Согласно результатам исследования с применением методов инфракрасной спектроскопии на основе преобразования Фурье, исследования поглощения в УФ, ви-димой и ближней ИК-областях (UV-Vis-NIR) и фотолюминесцентной спектроскопии, они являются природ-ными алмазами типа Ia.
Распределение интенсивности окраски по глубине определялось путем измерения интенсивности пика ФЛ при 741 нм (центр GR1) при возбуждении лазером с длиной волны 633 нм на рамановском конфокальном микроскопе. Для учета геометрических факторов профили распределения дефек-тов были нормализованы относительно интенсивности рамановского пика алмаза (691 нм).
Для двух алмазов интенсивность пика GR1 (741 нм) резко снижалась до глубины 10 мкм, а затем сравнялась с фоновым уровнем, что характерно для облучения α-частицами из природных источников, таких как уран. В трех кристаллах про-фили незначительно меняются с глубиной, а интенсивность окраски близка к равномерной, что характерно для электронного или нейтронного облучений.
Издание:
ЗАПИСКИ ГОРНОГО ИНСТИТУТА
Выпуск:
Том 266, №2 (2024)