Обсуждены формирование и диагностика ультракоротких электронных банчей для лазеров на свободных электронах (ЛСЭ), таких как FLASH, рентгеновский лазер XFEL и ЛСЭ для экстремальной ультрафиолетовой (УФ) литографии. Во всех ускорительных комплексах требуются формирование и диагностика ультракоротких электронных банчей с длиной около 50 мкм. Инфракрасный (ИК) ондулятор, изготовленный в Объединенном институте ядерных исследований (ОИЯИ) и установленный на FLASH, применяется для измерения продольной длины электронных сгустков. Совместно с УФ‐ондулятором он также используется для двухцветной генерации излучения в ЛСЭ, что позволяет исследовать динамику атомных и молекулярных систем с временным разрешением 100—500 фс. Для измерения излучения ЛСЭ FLASH в широком диапазоне длин волн (6,5—30 нм) с большим динамическим диапазоном разработана диагностика на основе микроканальных пластин.