ПРОБЛЕМЫ РАЗРАБОТКИ ПЕРСПЕКТИВНЫХ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ (МЭС)
Архив статей журнала
О МАТЕМАТИЧЕСКИХ МОДЕЛЯХ ЦИФРОВЫХ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ И ПРОВЕРКЕ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ВЫПОЛНЯЕМЫХ ФУНКЦИЙ НА ЭТАПЕ ПРОЕКТИРОВАНИЯ (2022)
Выпуск:
№ 3 (2022)
Метод моделирования цифровых микроэлектронных систем широко используется при проектировании последних. При этом важным этапом является проверка проекта на правильность функционирования цифровой системы. На компьютерную модель проекта подаются проверочные тесты, и разработчик анализирует правильность или ошибочность изменения выходных и внутренних сигналов проектируемой системы. При этом должна осуществляться проверка правильности как выполнения всех функций системы, так и всех возможных последовательностей функций. В данной работе предлагается модель и методика проверки последовательностей функций цифровой системы.