Книга: Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия

Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электронно‑зондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС‑камер и системам на основе электронно‑стимулированной фотолюминесценции (IP‑системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.

В книге представлен новейший метод трёхмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.

Настольная книга материаловеда.

Информация о документе

Формат документа
PDF, DJVU
Кол-во страниц
255 страниц
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем

Информация о книге

Ранее вы смотрели (1)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию книги, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.