Книга: Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электронно‑зондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС‑камер и системам на основе электронно‑стимулированной фотолюминесценции (IP‑системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трёхмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.
Настольная книга материаловеда.
Информация о документе
- Формат документа
- PDF, DJVU
- Кол-во страниц
- 255 страниц
- Загрузил(а)
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
Информация о книге
- ISBN
- 5‑94836‑064‑4
- Издательство
- Техносфера
- Год публикации
- 2006
- Библиографическая запись
-
Д. Синдо, Т. Оикава
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. Москва: Техносфера, 2006. — 256 с. ISBN 5‑94836‑064‑4
- Каталог SCI
- Электротехника
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию книги, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.