Книга: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Книга известных специалистов из Великобритании, США, ФРГ и Канады представляет собой детальное и конкретное руководство по применению оже‑спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для анализа поверхности. Она является первой учебно‑справочной монографией, в которой обобщены результаты огромного числа публикаций по этим вопросам. В первых пяти главах изложены необходимые научные основы методов, в гл. 6–10 рассмотрены их основные применения в важнейших областях современной техники.
Для физиков и химиков, занимающихся исследованиями поверхности, инженеров, связанных с технологией работ, аспирантов и студентов.
Информация о документе
- Формат документа
- PDF, DJVU
- Кол-во страниц
- 600 страниц
- Загрузил(а)
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
Информация о книге
- Издательство
- Мир
- Год публикации
- 1987
- Библиографическая запись
-
Анализ поверхности методами оже‑ и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Пер. с англ./Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха. — М.: Мир, 1987. — 600 с., ил.
- Каталог SCI
- Науки о Земле
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию книги, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.