Книга: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Книга известных специалистов из Великобритании, США, ФРГ и Канады представляет собой детальное и конкретное руководство по применению оже‑спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для анализа поверхности. Она является первой учебно‑справочной монографией, в которой обобщены результаты огромного числа публикаций по этим вопросам. В первых пяти главах изложены необходимые научные основы методов, в гл. 6–10 рассмотрены их основные применения в важнейших областях современной техники.

Для физиков и химиков, занимающихся исследованиями поверхности, инженеров, связанных с технологией работ, аспирантов и студентов.

Информация о документе

Формат документа
PDF, DJVU
Кол-во страниц
600 страниц
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем

Информация о книге

Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию книги, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.