Книга: Флуктуационные явления в полупроводниках и полупроводниковых приборах

Рассмотрены современные методы теоретического анализа флуктуационных явлений в полупроводниках. Приведены рекомендации по их применению при исследовании шумовых характеристик различных приборов: фоторезисторов, полевых и биполярных транзисторов, фото- и светодиодов, лавинно-пролетных диодов, транзисторных элементов микросхем и др.

Показано, какая информация о нешумах характеристик и параметрах полупроводниковых приборов и материалов, а также о механизмах протекающих в них физических процессов содержится в результатах флуктуационных исследований на разных распределениях.

Изложены методы шумовой спектроскопии уровней, а также методы экспериментального определения источников шума в электронных приборах.

Для научных работников, специализирующихся в областях физики полупроводников, полупроводниковых приборов, микросхем и приборов оптоэлектроники.