Книга: Поверхностные радиационные эффекты в ИМС

Скачать

Проанализировано влияние поверхностных радиационных эффектов в структуре диэлектрик-полупроводник на свойства элементов интегральных микросхем со структурой металл - диэлектрик-полупроводник и элементов биполярных интегральных микросхем. Рассмотрены физические модели, которые можно использовать при проектировании и создании интегральных микросхем, предназначенных для работы в условиях воздействия ионизирующего излучения. Проведен анализ источников излучений и обосновано применение моделирующих установок для исследования радиационных параметров интегральных микросхем.

Для научных работников, инженеров, аспирантов и студентов старших курсов, занимающихся разработкой и применением высокостабильных интегральных микросхем.

Информация о документе

Формат документа: PDF, DJVU
Кол-во страниц: 256 страниц
Загрузил(а): Соломин Игнат
Лицензия: —
Доступ: Всем

Информация о книге

ISBN

5283029425

Издательство

Энергоатомиздат

Год публикации

1988

Автор(ы)

Вячеслав Сергеевич Першенков, Виктор Дмитриевич Попов, Александр Всеволодович Шальнов

Библиографическая запись

Першенков В. С., Попов В. Д., Шальнов А. В. Поверхностные радиационные эффекты в элементах интегральных микросхем. — М.: Энергоатомиздат, 1988. — 256 с. —

ISBN 5-283-02942-5

Ключевые фразы

электротехника, ЯДЕРНАЯ ФИЗИКА, микросхемы, поверхностные радиационные эффекты, имс

Каталог SCI

Физика

УДК

539.16.04. Физические, химические и биологические действия радиоактивности
621.3.049.7. Механическая конструкция, структурные материалы и компоненты

Статистика просмотров

Статистика просмотров книги за 2026 год.

Ранее вы смотрели (4)

01. Статья: АКТИВИЗАЦИЯ ПРЕФИКСА РЕ- В СОЦИАЛЬНО-ПОЛИТИЧЕСКИХ И ЭКОНОМИЧЕСКИХ КОНТЕКСТАХ, СВЯЗАННЫХ С ТЕКУЩИМИ РЕЗУЛЬТАТАМИ СПЕЦИАЛЬНОЙ ВОЕННОЙ ОПЕРАЦИИ

02. Статья: Повышение чувствительности кремниевых p–i–n-фотодиодов к излучению с длиной волны 1,06 мкм

03. Статья: Политическая философия нацизма и банковская система Третьего рейха: финансы и экспансия

04. Статья: ПРОЧНОСТЬ И ДЕФОРМАТИВНОСТЬ СКЛАДЧАТЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ИЗ ТЕКСТИЛЬНО-АРМИРОВАННОГО БЕТОНА

Все права на тексты и товарные знаки принадлежат их законным владельцам. Подробнее...

Сайт https://scinetwork.ru (далее – Сайт) представляет собой платформу, на которой пользователи самостоятельно добавляют и публикуют метаинформацию о материалах разных видов (названия, обложки, аннотации, данные об авторах и т.п.). Администрация Сайта не занимается самостоятельным сбором или первоначальной публикацией этих сведений.

Модерация контента

На Сайте действует постмодерация. Это означает, что материалы, добавляемые пользователями, становятся общедоступными сразу после публикации и проверяются Администрацией Сайта постфактум в разумные сроки.

Использование информации

Администрация Сайта не использует метаданные и обложки документов в коммерческих или рекламных целях для продвижения товаров или услуг и не заявляет о каких-либо правах на представленные объекты интеллектуальной собственности. Все права на документы и сопутствующие материалы принадлежат их законным правообладателям.

Отказ от гарантий

Администрация Сайта не гарантирует точность, полноту и достоверность метаинформации, размещенной пользователями, поскольку не осуществляет ее предварительную проверку.

Ответственность

Сайт носит исключительно информационно-справочный характер. Администрация Сайта не несет ответственности за содержание и достоверность информации, добавленной пользователями, а также за любые убытки, возникшие в связи с использованием или невозможностью использования Сайта и размещенной на нем информации.