Книга: Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа.

Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

Информация о документе

Формат документа
PDF, DJVU
Кол-во страниц
127 страниц
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем

Информация о книге

ISBN
9785948361772
Издательство
Техносфера
Год публикации
2008
Автор(ы)
Рид С. Дж. Б.
Библиографическая запись

Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии
Москва: Техносфера, 2008. – 232 с., 8 с. цв. вклейки ISBN 9785948361772

Каталог SCI
Почвоведение