Статья: Повышение точности определения оптических постоянных тонких пленок модифицированным методом нарушенного полного внутреннего отражения
Предложен метод, позволяющий определять толщину и оптические постоянные тонких слоев. В основе метода лежит точное измерение углов падения света, соответствующих нулевому отражению в схеме нарушенного полного внутреннего отражения.
Информация о документе
- Формат документа
- Кол-во страниц
- 1 страница
- Загрузил(а)
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
- Просмотров
- 5
Информация о статье
- ISSN
- 1996-0948
- EISSN
- 2949-561X
- Префикс DOI
- 10.51368
- Журнал
- Прикладная физика
- Год публикации
- 2024
- Каталог SCI
- Физика
- УДК
- 535. Оптика