Статья: Повышение точности определения оптических постоянных тонких пленок модифицированным методом нарушенного полного внутреннего отражения

Предложен метод, позволяющий определять толщину и оптические постоянные тонких слоев. В основе метода лежит точное измерение углов падения света, соответствующих нулевому отражению в схеме нарушенного полного внутреннего отражения.

Информация о документе

Формат документа
PDF
Кол-во страниц
1 страница
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем

Информация о статье

ISSN
1996-0948
EISSN
2949-561X
Префикс DOI
10.51368
Журнал
Прикладная физика
Год публикации
2024
Автор(ы)
Мошкунов С. И., Филин С. А., Хомич В. Ю.
Каталог SCI
Физика

Статистика просмотров

Статистика просмотров статьи за 2025 год.

Ранее вы смотрели (10)