Статья: Повышение точности определения оптических постоянных тонких пленок модифицированным методом нарушенного полного внутреннего отражения

Предложен метод, позволяющий определять толщину и оптические постоянные тонких слоев. В основе метода лежит точное измерение углов падения света, соответствующих нулевому отражению в схеме нарушенного полного внутреннего отражения.

Информация о документе

Формат документа
PDF
Кол-во страниц
1 страница
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем
Просмотров
5

Информация о статье

ISSN
1996-0948
EISSN
2949-561X
Префикс DOI
10.51368
Журнал
Прикладная физика
Год публикации
2024
Автор(ы)
Мошкунов С. И., Филин С. А., Хомич В. Ю.
Каталог SCI
Физика
Ранее вы смотрели (10)