Доклад: Влияние рельефа поверхности СБИС считывания фотосигналовна основные характеристики матриц на основе ККТ на диапазон 0,4 - 2,0 мкм

Пономаренко В.П., Попов В.С., Панков М.А., Попов М.А., Петрушина В.А., Тальвеже В.В., Еремкин Н.В., Атрашков А.С., Кондрахин А.С., Царегородцев Д.О., Трофимов А.А., Мирофянченко Е.В., Бричкин С.Б., Гадомская А.В., Демкин Д.В., Иванова В.А., Кацаба А.В., Кириченко А.С., Певцов Д.Н., Разумов В.Ф., Спирин М.Г., Товстун С.А., Кузнецов А.Н., Кузнецов П.А., Деомидов А.Д., Деев Г.Ю., Федоров А.А.