Доклад: Особенности создания газонаполненных конструкций матричных фотоприёмников на основе коллоидных квантовых точек для диапазона 0,4-2,0 мкм из керамических материалов
Докладчик
Панков Михаил АлександровичАО ″НПО ″ОРИОН″
Соавтор(ы)
Пономаренко В.П., Попов В.С., Хамидуллин К.А., Деомидов А.Д., Юдовская А.Д., Cкрынник Е.А.
Тип доклада
Устный
Конференция
Секция программы
Дата и время
пятница, 29 мая (начало в 11:00)
Статистика доклада
Статистика просмотров за 2026 год.
Обсуждение доклада
Новых тем пока нет
Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.
Другие доклады секции: 8
09:15 |
Оптимизация процесса получения чернил на основе ККТ HgTe для фотосенсоров ИК диапазона
Хакимов Карим Тимурович•МФТИ, ФИЗТЕХ
Хакимов Карим Тимурович•МФТИ, ФИЗТЕХ
09:30 |
Синтез и модификация коллоидных квантовых точек халькогенидов ртути для фотодетекторов ИК диапазона
Медведев Александр Геннадьевич•МФТИ, ФИЗТЕХ
Медведев Александр Геннадьевич•МФТИ, ФИЗТЕХ
09:45 |
Влияние лигандной замены и растворителя на свойства пленок коллоидных квантовых точек HgSe
Королева Таисия Викторовна•МФТИ, ФИЗТЕХ
Королева Таисия Викторовна•МФТИ, ФИЗТЕХ
10:00 |
Фотофизические свойства коллоидных квантовых точек HgSe@CdSe для инфракрасной фотосенсорики
Чемакина Яна Александровна•МФТИ, ФИЗТЕХ
Чемакина Яна Александровна•МФТИ, ФИЗТЕХ
10:15 |
Влияние замены лиганда на фотофизические характеристики фоторезисторов на основе коллоидных квантовых точек HgTe
Асначёв Даниил Дмитриевич•МФТИ, ФИЗТЕХ
Асначёв Даниил Дмитриевич•МФТИ, ФИЗТЕХ
10:30 |
Влияние кислорода на темновую проводимость тонких плёнок коллоидных квантовых точек PbS
Кашапов Данир Русланович•МФТИ, ФИЗТЕХ
Кашапов Данир Русланович•МФТИ, ФИЗТЕХ
10:45 |
Влияние рельефа поверхности СБИС считывания фотосигналовна основные характеристики матриц на основе ККТ на диапазон 0,4 - 2,0 мкм
Ильинов Денис Владимирович•АО ″НПО ″ОРИОН″
Ильинов Денис Владимирович•АО ″НПО ″ОРИОН″
11:00 |
Особенности создания газонаполненных конструкций матричных фотоприёмников на основе коллоидных квантовых точек для диапазона 0,4-2,0 мкм из керамических материалов
Панков Михаил Александрович•АО ″НПО ″ОРИОН″