Распределение радиационных дефектов по глубине в облученных алмазах: данные конфокальной микроспектроскопии (2024)

Исследована природа окраски пяти алмазов. Согласно результатам исследования с применением методов инфракрасной спектроскопии на основе преобразования Фурье, исследования поглощения в УФ, ви-димой и ближней ИК-областях (UV-Vis-NIR) и фотолюминесцентной спектроскопии, они являются природ-ными алмазами типа Ia.

Распределение интенсивности окраски по глубине определялось путем измерения интенсивности пика ФЛ при 741 нм (центр GR1) при возбуждении лазером с длиной волны 633 нм на рамановском конфокальном микроскопе. Для учета геометрических факторов профили распределения дефек-тов были нормализованы относительно интенсивности рамановского пика алмаза (691 нм).

Для двух алмазов интенсивность пика GR1 (741 нм) резко снижалась до глубины 10 мкм, а затем сравнялась с фоновым уровнем, что характерно для облучения α-частицами из природных источников, таких как уран. В трех кристаллах про-фили незначительно меняются с глубиной, а интенсивность окраски близка к равномерной, что характерно для электронного или нейтронного облучений.

Тип: Статья
Автор (ы): Редди А.В.Р.
Ключевые фразы: конфокальная рамановская микроскопия; цветной алмаз; профиль глубины, ионизирующее излучение; облучение; фотолюминесценция; нормализация; GR1

Идентификаторы и классификаторы

УДК
523.4-35. Излучение
553.81. Алмаз
663.14.039.35. Свет. Облучение
Текстовый фрагмент статьи